干货丨扫描电镜(SEM)和透射电镜(TEM)——相似点和不同点!
1 、扫描电镜和透射电镜的相似点和不同点如下:相似点: 成像原理:都利用电子来获取样品的图像。 工作环境:都依赖于高真空环境进行操作 。不同点: 成像方式: SEM:通过线圈扫描样品并收集散射电子 ,侧重于表面结构与组成信息。 TEM:利用透射电子观察样品内部,如晶体结构和应力状态。 分辨率: SEM:最高分辨率可达0.5nm。
2、电子显微镜作为揭示材料本质的强大工具,其多功能性和高空间分辨率在众多应用领域中极具价值 。主要的两种电子显微镜类型,扫描电镜(SEM)和透射电镜(TEM) ,各有其独特的特性与适用场景。相同点在于,SEM和TEM都利用电子获取样品的图像,且都依赖于高真空环境。
3、投射电镜和扫描电镜的异同如下:相同点: 基本原理相同:两者都使用电子来获取样品的图像 ,且主要组成部分相似 。不同点: 利用的电子种类: 透射电镜:使用经过加速和聚集的电子束投射到样品上。 扫描电镜:利用聚焦的高能电子束扫描样品。
你都要掌握哪些透射电镜(TEM)的必要知识?
TEM主要组成部分包括照明系统、成像系统 、观察和照相系统、试样台和真空系统 。照明系统包括电子枪、高压发生器 、加速管和照明透镜系统等,成像系统包含物镜、中间镜、投影镜和光阑等。TEM可用于测试广泛样品,包括碳纳米材料 、纳米金属氧化物、锂电正负极材料、金属合金 、陶瓷、半导体、微生物 、生命组织样本、大分子结构、原料药等。
TEM结构与功能应用TEM的基本结构包括放大镜和变焦照相机 ,工作模式包括放大成像、电子衍射和扫描透射模式 。更多详细内容,请查阅我们的相关文章。 TEM工作模式详解TEM的工作模式各异,如放大成像获取样品形貌 ,电子衍射用于解析样品的晶体结构,而扫描透射模式则能提供高角度卢瑟福散射图像的细节。
利用电子束穿透极薄样品,通过多级电磁透镜放大并成像 ,揭示材料微观结构 。包括电子束的发射 、会聚、样品透射、多次放大,最终在荧光屏上形成可见光影像。成像模式:包括明场 、暗场和中心暗场成像,提供不同观察角度和信息。利用单晶、多晶和非晶的衍射特性,进一步丰富观察内容。
在TEM成像中 ,明场像、暗场像和中心暗场像有着不同的特点 。明场像允许透射束通过物镜光阑成像,暗场像和中心暗场像则仅允许特定衍射束通过,且中心暗场像的成像品质较好。TEM的像差是影响分辨率的主要因素 ,包括球差 、色散、像散和衍射差。
简单分析透射电子显微镜成像方式、性能、特点和参数等
1 、透射电子显微镜作为一种先进的显微镜技术,具有高分辨率、大深度、高对比度和多功能性等特点,被广泛应用于科学研究和工业生产中 。通过了解透射电子显微镜的成像方式、性能 、特点和参数等 ,我们可以更好地利用这一技术揭示微观世界的奥秘,推动科学的发展和进步。
2、平行光照射模式 特点:此模式下,TEM像一束宽广的探照灯 ,照亮试样的宏观和微观面貌。应用:适用于常规检测,如观察催化剂粉末的轮廓、纳米粒子的尺寸,以及晶面间距和原子排列 。
3 、电子显微镜是使用电子来展示物件的内部或表面的显微镜。高速的电子的波长比可见光的波长短(波粒二象性) ,而显微镜的分辨率受其使用的波长的限制,因此电子显微镜的理论分辨率(约0.1纳米)远高于光学显微镜的分辨率(约200纳米)。
什么是透射电子显微镜
透射电子显微镜(TEM)是一种利用加速和聚焦的电子束照射薄样品的技术 。 当电子束与样品中的原子发生碰撞时,电子的方向会发生改变,产生立体角散射。 散射角度与样品的密度和厚度密切相关 ,这使得可以形成不同明暗的影像。 透射电子显微镜通常具有0.1至0.2纳米的分辨率,以及数万至数百万倍的放大倍数,适用于观察超微结构 。
透射电子显微镜(TEM):1932年 ,Ruska发明了透射电子显微镜,该设备使用电子束作为光源。电子束的波长远小于可见光和紫外光,且波长与电压的平方根成反比 ,这意味着电压越高,波长越短。目前,TEM的分辨力可达0.2纳米。与光学显微镜类似 ,透射电子显微镜依赖于电子束作为光源和电磁透镜进行成像 。
透射电子显微镜(英文:Transmission electron microscopy,缩写TEM),简称透射电镜 ,是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关,因此可以形成明暗不同的影像。
SEM ,即扫描电子显微镜,使用较低的电压进行扫描成像,能够提供高分辨率的表面图像 ,类似于高倍显微镜的功能 。TEM,即透射电子显微镜,采用高电压穿透样品 ,观察样品内部结构,提供极高的分辨率。STEM,是扫描透射电镜的一种 ,实际上是扫描电镜的一种特殊功能,可以部分模拟透射电镜的功能,但不如TEM全面。
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